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[導讀]  1 輔助電源測試  測試說明:  電源中輔助電源有重要意義,電源模塊的正常工作靠輔助電源來保障,輔助電源工作要比主電路要求更可靠,因為即使在輸入電壓超限的條件

  1 輔助電源測試

  測試說明:

  電源中輔助電源有重要意義,電源模塊的正常工作靠輔助電源來保障,輔助電源工作要比主電路要求更可靠,因為即使在輸入電壓超限的條件下,輔助電源還要正常工作,以實現正常的保護邏輯,而且功率器件的驅動,控制芯片的工作都要靠輔助電源來保障,因此,對輔助電源的要求是:無論在動態(tài)的情況下還是在靜態(tài)的情況下,必須穩(wěn)定可靠,輸出電壓穩(wěn)定,以滿足控制和通訊電路的要求。測試工作中要充分關注輔助電源。

  測試方法:

  輔助電源要關注以下幾個問題:

  A、啟動電阻設計是否合理,限流電阻(輔助電源的輸入與高壓直流母線排串聯的電阻)設計是否合理;

  B、靜態(tài)的情況下,輔助電源的電壓是否在全電壓、負載內;

  C、大動態(tài)的情況下,輔助電源是否正常;

  D、啟動過程中輸出電壓是否出現過沖,384X Isence端及驅動波形是否異常;

  E、輸出電壓波形監(jiān)測;

  F、開關管的電應力測試;

  G、輔助電源的溫度應力測試;

  H、芯片的工作主要參數,如工作電壓、功耗等。

  針對這些問題,需要測試相應項目:

  A、啟動電阻和限流電阻測試

  啟動電阻的功率降額必須滿足設計要求,計算功率的公式為:

  P=(Bmax-V1)/R,其中Vmax為輔助電源在各種情況下最大的輸入電壓,V1為輔助電源控制芯片(UC384X)正常工作電壓,計算出來的功率不能超過選用的啟動電阻的功率,同時啟動電阻的溫升必須滿足降額要求。在最高的環(huán)境溫度、輔助電源最高的輸入電壓Vmax下,正常工作時,啟動電阻的最高溫度(溫度穩(wěn)定以后)不超過120oC(15oC的降額,135oC-15oC=120oC),如果在常溫下測試,測試溫升需要轉換到最高工作環(huán)境溫度。

  限流電阻的功率也要滿足降額的要求,用示波器測試正常情況下,滿載開機,滿載關機情況下電阻兩端的電壓波形,通過電壓波形,測試出電阻兩端的電源有效值,根據有效值計算電阻的功率,要求功率在開機和關機以及正常情況下要滿足降額要求。

  B、靜態(tài)的情況下,輸出電壓范圍測試

  測試模塊輸入電壓分別為Vinmin,Vinnom,Vinmax和輸出Iomin,Ionom、Iomax,輸出限流點,輸出深度限流狀態(tài)下的輔助電源每一路輸出電壓,要求每一路輸出電壓在每一種情況下都保持穩(wěn)定,而且能夠滿足控制回路和通訊回路的可靠工作要求(注意:Vinmin為輔助電源剛剛開始工作的電壓,Vinmax為模塊輸入過壓保護后的電壓,過壓保護和欠壓保護以后,模塊都能正常工作)。

  C、動態(tài)的情況下,輔助電源輸出電壓范圍:

  用AC SOURCE調節(jié)模塊的輸入電壓和輸出負載同時跳變(輸入電壓在最高電壓和最低輸入電壓之間跳變,跳變時間為50ms,輸出從空載到滿載跳變,跳變時間為5ms,tr和tf設置為20us對應1A),在這種情況下,測試輔助電源各路輸出電壓,要求每一路輸出電壓都能保持穩(wěn)定,而且能夠滿足控制回路和通訊回路的可靠工作要求。

  D、關鍵點波形測試:

  分別在輸入過壓點-5V、欠壓點+5V啟動時測試輸出電壓波形,3844 Isence端及開關管驅動波形,監(jiān)測是否出現輸出電壓過沖、開關管過流及開關管驅動端波形異常等情況。同時在各種動態(tài)的情況下(包括輸入動態(tài),輸出動態(tài)的情況下),各個關鍵點的波形測試。

  E、輸出電壓紋波測試:

  輸出額定線形負載情況下,用測試電壓紋波的方法測試輸出電壓波形,其紋波P-P值應小于5%輸出電壓。

  判斷標準:

  以上測試項目作為檢測輔助電源性能的測試。啟動電阻溫升正常,未出現開關管電流及驅動波形異常,在工作范圍內輔助電源電壓正常,在異常電壓輸入范圍輔助電源正常(在電源能夠實現保護的范圍內正常),合格;否則不合格。

  2 驅動電路的測試

  測試說明:

  功率器件的驅動技術是電源可靠性的重要保障,好的驅動方式能夠實現有效的開通和關斷,高效率,低的EMI干擾,快速實現功率器件的保護等功能,測試中應對功率管驅動進行測試,為了防止由于探頭引起的影響,測試中用應采用差分隔離探頭(或采用一般的探頭,同時示波器的電源用隔離變壓器隔離),并注意以下問題:

  A、驅動電路分析;

  B、驅動電壓;

  C、驅動波形;

  D、瞬態(tài)情況下驅動波形;

  F、驅動芯片的電壓,如起機過程中的芯片供電電壓等。

  測試方法:

 ?。?)驅動電路分析

  審核驅動電路方式,無論變壓器隔離驅動和集成IC驅動,驅動電阻應滿足推薦要求,如果采用加速電容或快速關斷方式時應評估其作用,負壓關斷時應確認其影響,一般情況下GS應有穩(wěn)壓管,分析驅動電路,確認電路設計合理性。

  (2)驅動電壓

  目前,公司的大部分的開關管都是使用MOSFET或IGBT,MOSFET和IGBT的驅動都是使用電壓方式,高的驅動電壓會擊穿柵極,測試在空載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,tr和tf為1A對應20us),空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高,從最高電壓到最低電壓跳變(跳變時間為50ms)條件下的驅動波形,要保證驅動電壓低于規(guī)定電壓,一般峰值應小于20V,同時注意驅動電壓要滿足飽和驅動。

 ?。?)驅動波形

  測試在空載、輕載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,tr和tf為1A對應20us),空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高,從最高電壓到最低電壓跳變(跳變時間為50ms)條件下的驅動波形,波形的上升和下降沿應平滑,且滿足效率和EMI要求(上升時間較快,管子的開通損壞小,但是電壓尖鋒較高,EMI會較大),開通中不應有下跌,關斷后不會出現尖沖,死區(qū)時間滿足設計要求。

  對比PWM芯片輸出波形和驅動波形,確認驅動波形和PWM輸出波形一致。

 ?。?)驅動回路

  功率器件(MOSFET和IGBT)驅動電源要求低的阻抗特性,驅動回路面積盡可能小,驅動線盡量短,且驅動回路必須與功率回路分開。

 ?。?)瞬態(tài)狀態(tài)下的波形

  在瞬態(tài)條件下,如開關機、輸出突加負載、突減負載,由限流態(tài)到穩(wěn)壓態(tài)的轉換,從穩(wěn)壓到限流態(tài)的轉換,輸出短路,短路開機,輸出短路放開的情況下驅動正常。由保護到恢復的過程中,驅動正常,波形的上升和下降沿應平滑,開通中不應由下跌,關斷后不會出現尖沖,死區(qū)時間滿足設計要求,驅動波形不應出現振蕩現象。

  判定標準:

  符合測試說明,合格;否則不合格。

  (6)主控制芯片供電電壓的測試

  用示波器測試主要的控制芯片的供電電壓,捕捉模塊上電過程、關機的過程以及正常工作情況下芯片供電電壓的波形,芯片供電電壓必須滿足芯片資料的要求,同時最好工作在芯片資料推薦的工作電壓下,任何情況都不能出現超過芯片工作電壓范圍的電壓芯片供電。

  3 功率半導體器件的應力測試

  測試說明:

  功率半導體器件主要包括:DCDC的主功率管、輸出整流二極管、PFC的主功率管、PFC的整流二極管、PFC的夸接二極管等。這些功率半導體器件的正確使用是電源可靠性的重要保證,為保證功率器件的合理使用,需要考慮合理的電流、電壓降額和結溫降額,故測試應在以下幾個方面注意:

  A、滿足電壓降額要求;

  B、滿足電流降額要求;

  C、滿足溫度降額要求

  測試方法:

  A、測試功率半導體器件在最惡劣條件下的Vds電壓波形,確定最高電壓和最大尖鋒電壓。由于Vds的電壓比較高,而且最大的電壓尖鋒的頻率能夠達到30-40MHz,故一般的測試時,電壓尖鋒小于300V的,可采用一般的示波器原配探頭(一般額定電壓為300,帶寬為100M或50M,測試的波形不會失真),當電壓尖鋒大于300V時,測試以高壓無源探頭的測試結果為準(帶寬為100M),測試的波形一般也不會失真。對于有源高壓探頭,因為帶寬較窄,一般為20MHz,容易失真,不建議使用。

  對于電壓應力的測試,主要測試在動態(tài)情況下的電壓應力(因為穩(wěn)態(tài)情況下的電壓應力較?。?,具體的測試條件如下:

  (1)輸入電壓為最高電壓,分別測試輸出空載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流(輸出電壓為50V左右)、空載到深度限流(輸出電壓小于40V),(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,tr和tf為1A對應20us),空載到短路情況下,器件的電壓應力。改變輸入電壓,在最低輸入電壓和額定輸入電壓下重新以上的測試。記錄測試的最大應力,記錄超標的電壓波形。

  (2)輸入電壓在最大電壓和最下電壓之間跳變(跳變時間為20ms)分別測試輸出空載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流(輸出電壓為50V左右)、空載到深度限流(輸出電壓小于40V),(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,tr和tf為1A對應20us),空載到短路情況下,器件的電壓應力。

(3)模擬系統(tǒng)上運行的情況測試下,在系統(tǒng)上,當模塊處于浮充狀態(tài),監(jiān)控使模塊變?yōu)榫洌@時由于模塊電壓上升速度不一致,導致電壓上升較快的模塊瞬間承受過高的功率,同時模塊又沒法

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