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脈沖Vds-id 的測(cè)試參數(shù)
漏極電壓Vd，從0至4V進(jìn)行掃描，在每個(gè)Vd掃描之后，門極電壓Vg步進(jìn)到下一個(gè)數(shù)值。傳統(tǒng)的只有直流的Vds-id和通過(guò)4200-RBT,偏置T型接頭的直流IV測(cè)試之間的主要區(qū)別是SMU的數(shù)量。通過(guò)偏置T型接頭進(jìn)行的直流
漏極電壓Vd，從0至4V進(jìn)行掃描，在每個(gè)Vd掃描之后，門極電壓Vg步進(jìn)到下一個(gè)數(shù)值。傳統(tǒng)的只有直流的Vds-id和通過(guò)4200-RBT,偏置T型接頭的直流IV測(cè)試之間的主要區(qū)別是SMU的數(shù)量。通過(guò)偏置T型接頭進(jìn)行的直流
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