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Keithley技術(shù)文獻(xiàn)：半導(dǎo)體C-V測(cè)量基礎(chǔ)
通用測(cè)試 電容-電壓（C-V）測(cè)試廣泛用于測(cè)量半導(dǎo)體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測(cè)量還可以對(duì)其他類(lèi)型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析，包括雙極結(jié)型
巧克力娃娃
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