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如何利用KPCI-3130系列模擬輸出卡進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試
概述當(dāng)前，電子界正在逐漸脫離傳統(tǒng)的測(cè)試和測(cè)量哲學(xué)，而轉(zhuǎn)向更加混合的方法。幾年前，如果要求生成或測(cè)量極其精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)，除了臺(tái)式儀器，幾乎沒有可用的解決方案。不過，隨著電子元器件的持續(xù)進(jìn)展，現(xiàn)在已經(jīng)可以制
概述當(dāng)前，電子界正在逐漸脫離傳統(tǒng)的測(cè)試和測(cè)量哲學(xué)，而轉(zhuǎn)向更加混合的方法。幾年前，如果要求生成或測(cè)量極其精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)，除了臺(tái)式儀器，幾乎沒有可用的解決方案。不過，隨著電子元器件的持續(xù)進(jìn)展，現(xiàn)在已經(jīng)可以制
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