微處理器集成電路的檢測(cè) 微處理器集成電路的關(guān)鍵測(cè)試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號(hào)輸入端、XOUT晶振信號(hào)輸出端及其他各線輸入、輸出端。 在路測(cè)量這些關(guān)鍵腳對(duì)地的電阻值和電壓值,看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資料中查出)相同。
觀看華邦安全閃存技術(shù)研討會(huì),分享你的設(shè)計(jì)安全小“芯”思
C 語(yǔ)言靈魂 指針 黃金十一講 之(2)
51單片機(jī)到ARM征服嵌入式系列課程
Altium Designer 19實(shí)戰(zhàn)速成視頻
Altium Designer 操作小知識(shí)
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯(cuò)誤 其它
本站介紹 | 申請(qǐng)友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠(chéng)聘英才
ICP許可證號(hào):京ICP證070360號(hào) 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報(bào)窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號(hào)