微處理器集成電路的檢測 微處理器集成電路的關(guān)鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他各線輸入、輸出端。 在路測量這些關(guān)鍵腳對地的電阻值和電壓值,看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資料中查出)相同。
學(xué)習(xí)狀態(tài)監(jiān)控CbM系統(tǒng)設(shè)計,完成測試
Altium Designer 19實戰(zhàn)速成視頻
老九零基礎(chǔ)學(xué)編程系列之C語言
Altium19/AD18零基礎(chǔ)入門實戰(zhàn)視頻課程字幕版
小i單片機(jī)壓箱底教程
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號