HALT(High Accelerated Life Test):高加速壽命試驗(yàn),即試驗(yàn)中對(duì)試驗(yàn)對(duì)象施加的環(huán)境應(yīng)力比試驗(yàn)對(duì)象整個(gè)生命周期內(nèi),包括運(yùn)輸、存儲(chǔ)及運(yùn)行環(huán)境內(nèi),可能受到的環(huán)境應(yīng)力大得多,以此來(lái)加速暴露試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)
一款新產(chǎn)品的推出都要經(jīng)歷很多階段,其中最關(guān)鍵的部分可能要數(shù)設(shè)計(jì)研發(fā)階段了。新的產(chǎn)品理念的提出到試品的出現(xiàn),可謂是從無(wú)到有的過(guò)程。在整個(gè)產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)階段,工程師們需要通過(guò)很多手段使產(chǎn)品的種種缺陷提早暴露