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采用數(shù)字示波器進行的EMI預測試
伴隨著現(xiàn)代電子技術的發(fā)展，各種電子設備的集成度越來越高。大量高速總線和RF功能的引入，使設備本身產(chǎn)生更多的電磁輻射問題。同時，由于用戶對采購產(chǎn)品的電磁兼容性要求越來越高，產(chǎn)品設計工程師必須努
伴隨著現(xiàn)代電子技術的發(fā)展，各種電子設備的集成度越來越高。大量高速總線和RF功能的引入，使設備本身產(chǎn)生更多的電磁輻射問題。同時，由于用戶對采購產(chǎn)品的電磁兼容性要求越來越高，產(chǎn)品設計工程師必須努
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