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DigRF 協(xié)議層測試方法
對于從事DigRF設(shè)計特別是相關(guān)基帶和射頻芯片研發(fā)的人員來說，僅僅確認(rèn)信號質(zhì)量沒有問題是不夠的，隨著BB IC和RF-IC 之間的通信鏈路從模擬向高速串行數(shù)字的不斷演進(jìn)，DigRF 標(biāo)準(zhǔn)為移動無線開發(fā)、集成和驗證團隊帶來了
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DigRF的物理層測試方法
DigRF組織在V1和V3時代時由于沒有并入MIPI組織，所以其物理層采用的是自定義的物理層。而在V4時DigRF WorkGroup主要致力于協(xié)議層標(biāo)準(zhǔn)的制定，物理層采用的是MIPI組織的M-PHY的物理層標(biāo)準(zhǔn)，因此DigRF V1/V3/V4的各個版
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測試 3G 手機的 DigRF 技術(shù)
一種生產(chǎn)型測試儀應(yīng)有這種能力，即在各次測試間對測試儀硬件和DUT作必要修改時，仍保持?jǐn)?shù)字子系統(tǒng)的運行。它使測試儀能夠維持相對于DUT輸出的選通時序，避免在正式運行中的選通相位重調(diào)，節(jié)省了測試時間。
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