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DigRF 協(xié)議層測(cè)試方法
對(duì)于從事DigRF設(shè)計(jì)特別是相關(guān)基帶和射頻芯片研發(fā)的人員來說，僅僅確認(rèn)信號(hào)質(zhì)量沒有問題是不夠的，隨著BB IC和RF-IC 之間的通信鏈路從模擬向高速串行數(shù)字的不斷演進(jìn)，DigRF 標(biāo)準(zhǔn)為移動(dòng)無線開發(fā)、集成和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)帶來了
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DigRF的物理層測(cè)試方法
DigRF組織在V1和V3時(shí)代時(shí)由于沒有并入MIPI組織，所以其物理層采用的是自定義的物理層。而在V4時(shí)DigRF WorkGroup主要致力于協(xié)議層標(biāo)準(zhǔn)的制定，物理層采用的是MIPI組織的M-PHY的物理層標(biāo)準(zhǔn)，因此DigRF V1/V3/V4的各個(gè)版
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測(cè)試 3G 手機(jī)的 DigRF 技術(shù)
一種生產(chǎn)型測(cè)試儀應(yīng)有這種能力，即在各次測(cè)試間對(duì)測(cè)試儀硬件和DUT作必要修改時(shí)，仍保持?jǐn)?shù)字子系統(tǒng)的運(yùn)行。它使測(cè)試儀能夠維持相對(duì)于DUT輸出的選通時(shí)序，避免在正式運(yùn)行中的選通相位重調(diào)，節(jié)省了測(cè)試時(shí)間。
