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最簡(jiǎn)便的S參數(shù)測(cè)試校準(zhǔn)方法—AFR
我們先來(lái)討論這樣一個(gè)問(wèn)題：如果先用SOLT校準(zhǔn)校準(zhǔn)到同軸端面，然后分別測(cè)試被測(cè)網(wǎng)絡(luò)與直通校準(zhǔn)件的S參數(shù)，再將兩者參數(shù)進(jìn)行去嵌處理，這樣得到的結(jié)果是否就是DUT參數(shù)？對(duì)于這個(gè)問(wèn)題我們可以在仿真軟件里
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AFR自動(dòng)夾具移除校準(zhǔn)方法的原理
自動(dòng)端口延伸是一種對(duì)夾具的損耗和時(shí)延進(jìn)行補(bǔ)償?shù)暮?jiǎn)單方法，可以處理單端口夾具。另一種補(bǔ)償PCB或其他夾具損耗的常用方法是：制作一個(gè)跟DUT夾具一樣的測(cè)試夾具，但提供一個(gè)直通連接。
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通過(guò)AFR提取的高頻探針模型
在很多PCB板、晶圓的測(cè)試中，高頻探針是一個(gè)必不可少的探測(cè)工具。特別是高速數(shù)字電路板、微波芯片的測(cè)試中，對(duì)于探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。那么問(wèn)題來(lái)了，探針本身的性能好壞如何衡量?
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AFR自動(dòng)夾具移除校準(zhǔn)方法的原理
自動(dòng)端口延伸是一種對(duì)夾具的損耗和時(shí)延進(jìn)行補(bǔ)償?shù)暮?jiǎn)單方法，可以處理單端口夾具。另一種補(bǔ)償PCB或其他夾具損耗的常用方法是：制作一個(gè)跟DUT夾具一樣 的測(cè)試夾具，但提供一個(gè)直通連接。最簡(jiǎn)單使用直通夾具進(jìn)行補(bǔ)償?shù)?/p>
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