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基帶衰落仿真在手機(jī)綜合測(cè)試方面的應(yīng)用
一、 什么是衰落?衰落從范圍上來(lái)講，大體分為三種情況：大區(qū)域衰落，小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示，大區(qū)域衰落指的是信號(hào)在長(zhǎng)距離(幾百個(gè)波長(zhǎng)以上)傳播時(shí)的平均衰減，主要由大氣損耗，建筑物或大的物體如山丘、樹(shù)
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衰落及其測(cè)試方法介紹
一、 衰落 衰落從范圍上來(lái)講，大體分為三種情況：大區(qū)域衰落，小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示，大區(qū)域衰落指的是信號(hào)在長(zhǎng)距離(幾百個(gè)波長(zhǎng)以上)傳播時(shí)的平均衰減，主要由大氣損耗，建筑物或大的物體如山丘、樹(shù)木
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移動(dòng)設(shè)備接收機(jī)的衰落性能測(cè)試及仿真
一、 衰落 衰落從范圍上來(lái)講，大體分為三種情況：大區(qū)域衰落，小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示，大區(qū)域衰落指的是信號(hào)在長(zhǎng)距離(幾百個(gè)波長(zhǎng)以上)傳播時(shí)的平均衰減，主要由大氣損耗，建筑物或大的物體如山丘、樹(shù)木
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跨越互電容式技術(shù)門(mén)坎 觸控IC廠商搶攻大尺寸應(yīng)用商機(jī)
多點(diǎn)觸控技術(shù)中，投射電容技術(shù)受惠蘋(píng)果iPhone熱銷而受世人矚目，除其他手機(jī)業(yè)者積極跟進(jìn)推出競(jìng)爭(zhēng)機(jī)種外，投射電容技術(shù)亦逐漸延展至如導(dǎo)航裝置、多媒體播放器等中小尺寸應(yīng)用，2009年微軟新一代支持多點(diǎn)觸控的操作系統(tǒng)
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A/D轉(zhuǎn)換器LTC2400功能及應(yīng)用
一、 衰落 衰落從范圍上來(lái)講，大體分為三種情況：大區(qū)域衰落，小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示，大區(qū)域衰落指的是信號(hào)在長(zhǎng)距離(幾百個(gè)波長(zhǎng)以上)傳播時(shí)的平均衰減，主要由大氣損耗，建筑物或大的物體如山丘、
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移動(dòng)設(shè)備的接收機(jī)的衰落性能測(cè)試
一、 衰落 衰落從范圍上來(lái)講，大體分為三種情況：大區(qū)域衰落，小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示，大區(qū)域衰落指的是信號(hào)在長(zhǎng)距離(幾百個(gè)波長(zhǎng)以上)傳播時(shí)的平均衰減，主要由大氣損耗，建筑物或大的物體如山丘、
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