?使用長電纜或電容夾頭的測試設置會增加測試儀器輸出的電容,導致測量結果不準確或不穩(wěn)定。當輸出或掃描直流電壓并測量異常靈敏的低電流時,能觀察到這種效應。
半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決于體摻雜,在器件中,電阻率會影響電容、串聯(lián)電阻和閾值電壓。
學習狀態(tài)監(jiān)控CbM系統(tǒng)設計,完成測試
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