1 引言由于對(duì)逆變器高頻化的追求,硬開(kāi)關(guān)所固有的缺陷變得不可容忍:開(kāi)通和關(guān)斷損耗大;容性開(kāi)通問(wèn)題;二極管反向恢復(fù)問(wèn)題;感性關(guān)斷問(wèn)題;硬開(kāi)關(guān)電路的EMI問(wèn)題。因此,有必要尋
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