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測試線材的濾波器效應(yīng)和負(fù)載效應(yīng)
在平時(shí)測試硬件電路的時(shí)候，經(jīng)常會(huì)遇到一些容易忽視又不容易覺察的問題，但是我們又必須正視這些問題的存在，并想方設(shè)法減弱或者消除這些問題，這里稱之為硬件電路測量中的陷阱。 測試儀器和儀
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輸入電容對于高頻測試的影響
為什么經(jīng)驗(yàn)老道的工程師都要在測試前調(diào)整一下探頭的檔位呢？不同檔位除了輸入阻抗、帶寬、上升時(shí)間等不同之外，還有個(gè)很重要的參數(shù)是輸入電容，它對于被測信號究竟有多大的
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邏輯分析儀之負(fù)載效應(yīng)
在數(shù)字系統(tǒng)的時(shí)序狀態(tài)分析中，最理想的分析儀器即為邏輯分析儀(Logic analyzer)。工程師在使用邏輯分析儀來量測系統(tǒng)訊號時(shí)，時(shí)常會(huì)遇到所量測到的數(shù)據(jù)不 對，這就要注意有可能是選用的邏輯分析儀
