摘 要:模擬集成電路的設(shè)計(jì)可以轉(zhuǎn)化為多目標(biāo)優(yōu)化問題,電路的性能指標(biāo)就是多目標(biāo)優(yōu)化時(shí)的目標(biāo)函數(shù),而實(shí)現(xiàn)這一方法的關(guān)鍵是多目標(biāo)優(yōu)化算法。文中采用自適應(yīng)加權(quán)和算法,該算法可準(zhǔn)確、高效地求出Pareto最優(yōu)前沿。采用該算法,以一個(gè)兩級(jí)運(yùn)算放大器為例,給出了自適應(yīng)加權(quán)和算法的優(yōu)化結(jié)果。