-
基于自適應加權的模擬集成電路多目標優(yōu)化方法研究
摘 要：模擬集成電路的設計可以轉(zhuǎn)化為多目標優(yōu)化問題，電路的性能指標就是多目標優(yōu)化時的目標函數(shù)，而實現(xiàn)這一方法的關鍵是多目標優(yōu)化算法。文中采用自適應加權和算法，該算法可準確、高效地求出Pareto最優(yōu)前沿。采用該算法，以一個兩級運算放大器為例，給出了自適應加權和算法的優(yōu)化結果。
摘 要：模擬集成電路的設計可以轉(zhuǎn)化為多目標優(yōu)化問題，電路的性能指標就是多目標優(yōu)化時的目標函數(shù)，而實現(xiàn)這一方法的關鍵是多目標優(yōu)化算法。文中采用自適應加權和算法，該算法可準確、高效地求出Pareto最優(yōu)前沿。采用該算法，以一個兩級運算放大器為例，給出了自適應加權和算法的優(yōu)化結果。
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號：京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權所有 用戶舉報窗口（ 郵箱：macysun@21ic.com ）
