-
什么是EFT?
半導(dǎo)體設(shè)備的認(rèn)證測試有許多不同類型和風(fēng)格：電磁干擾和兼容性、靜電放電、瞬態(tài)脈沖、抗振性、濕度和溫度應(yīng)力——不勝枚舉。這些認(rèn)證測試旨在進(jìn)行真實且可重復(fù)的實驗室實驗，代表被測設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境。有些測試是獨立的，有些是整個套件的一部分；無論哪種方式，在您的設(shè)備進(jìn)入市場之前，都需要通過大量的測試。
-
線圈脈沖測試原理及測試方案介紹
1．線圈脈沖測試原理線圈脈沖測試原理圖上圖中： C1：儲能電容 C2：諧振容量 Cp：線圈兩端等效并聯(lián)電容 R： 能量消耗等效并聯(lián)電阻 Lx：線圈等效電感預(yù)先對儲能電容C1充電，充電電壓為儀器設(shè)定的最大電壓，以一極
-
納米器件的脈沖測試
引言 納米技術(shù)研究已深入到原子挨原子的分子級，構(gòu)造具有全新特性的新結(jié)構(gòu)。特別地，納米電子領(lǐng)域的發(fā)展十分迅速，其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領(lǐng)域。目前的納米電子研究的內(nèi)容主要是如何開發(fā)利用碳納米
-
線圈為什么要執(zhí)行脈沖測試？
由一個或多個線圈組合而成的電感器、變壓器、馬達(dá)等繞線元件，通常需要通過下列途徑來完整地評估該線繞元件的品質(zhì)情況：1、線圈之繞線電阻DCR（銅阻），繞線感量（L）圈數(shù)N、圈數(shù)比例（Np/Ns），線圈間容量（Cp），鐵
-
針對納米器件的脈沖I-V測試小技巧
在對納米器件進(jìn)行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應(yīng)。這里，低電平測量技術(shù)不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電導(dǎo)率材料的電阻測量都非常重要。
-
基于利用89C51單片機(jī)的微波脈沖測試系統(tǒng)設(shè)計方案
1工作原理本系統(tǒng)充分利用89C51單片機(jī)的控制和計算能力，采用MCS-51匯編語言，設(shè)計了一種基于平均功率法的微波脈沖測試系統(tǒng)。平均功率法測量的是射頻脈沖復(fù)重周期的平均功率，并采用輔助方法測出脈沖的占空系數(shù)。設(shè)脈
-
基于利用89C51單片機(jī)的微波脈沖測試系統(tǒng)設(shè)計方案
1工作原理本系統(tǒng)充分利用89C51單片機(jī)的控制和計算能力，采用MCS-51匯編語言，設(shè)計了一種基于平均功率法的微波脈沖測試系統(tǒng)。平均功率法測量的是射頻脈沖復(fù)重周期的平均功率，并采用輔助方法測出脈沖的占空系數(shù)。設(shè)脈
-
咱的納米器件有幾 安（A）、伏（V）？（下）
解決問題：脈沖I-V測試 ——納米測試小技巧在對納米器件進(jìn)行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應(yīng)。這里，
-
咱的納米器件有幾安（A）、伏（V）？（上）
隨著納米技術(shù)日新月異的發(fā)展，研究已深入到原子挨原子的分子級，構(gòu)造具有全新特性的新結(jié)構(gòu)。特別地，納米電子領(lǐng)域的發(fā)展十分迅速，其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領(lǐng)域。目前的納米電子研究的內(nèi)容主要是如何開發(fā)利用碳納
-
咱的納米器件有幾安（A）、伏（V）？（上）
隨著納米技術(shù)日新月異的發(fā)展，研究已深入到原子挨原子的分子級，構(gòu)造具有全新特性的新結(jié)構(gòu)。特別地，納米電子領(lǐng)域的發(fā)展十分迅速，其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領(lǐng)域。目前的納米電子研究的內(nèi)容主要是如何開發(fā)利用碳納
