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應對復雜測試環(huán)境：測試探頭尖的防護與耐用性設計
測試探頭作為連接測試設備與被測對象的關鍵橋梁，其性能直接影響著測試結果的準確性和可靠性。而在復雜多變的測試環(huán)境中，測試探頭尖面臨著諸多挑戰(zhàn)，防護與耐用性設計成為了保障其正常工作的重要因素。
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碳化硅肖特基二極管產品系列，你了解嗎？
什么是碳化硅肖特基二極管產品系列?它有什么作用?Littelfuse作為全球電路保護領域的領先企業(yè)，今日宣布新推出了四個隸屬于其第2代產品家族的1200V碳化硅(SiC)肖特基二極管系列產品，該產品家族最初于2017年5月發(fā)布。
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Gen9HV LDMOS 140W RF PA晶體管，你了解嗎？
什么是Gen9HV LDMOS 140W RF PA晶體管?他有什么作用?2018年6月6日荷蘭奈梅亨 – 埃賦隆半導體(Ampleon)今天宣布推出專為諸如數字視頻廣播(DVBT)和特高頻(UHF)模擬電視等UHF廣播應用設計的BLF989射頻(RF)功率晶體管。
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用于BLDC電機的增量編碼器
使用無刷直流電機的編碼器，或其他反饋系統的方法，如步進電機的閉環(huán)IC，預測性維護可以內置到任何應用中。
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三星Galaxy Note 8最新耐用性測試：表現優(yōu)秀
三星Galaxy Note 8即將在美國上市開賣，現在知名評測達人JerryRigEverything帶來了這款旗艦的耐用性測試。
