0 引 言 錯(cuò)誤診斷是集成電路驗(yàn)證后期一個(gè)非常重要的階段,它幫助設(shè)計(jì)者在一個(gè)錯(cuò)誤芯片中預(yù)測(cè)錯(cuò)誤點(diǎn),因此可以減輕整個(gè)調(diào)試過(guò)程中的工作量。經(jīng)過(guò)許多年的研究工作,組合
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