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納米測(cè)量電流誤差來(lái)自哪里？
要測(cè)量弱電流，就必須理解各種潛在的誤差源[1]，這些誤差會(huì)造成人們所不希望出現(xiàn)的測(cè)量誤差[2]。影響多種類(lèi)型的納米電子器件的測(cè)量結(jié)果的兩種極為常見(jiàn)的誤差源是摩擦生電效應(yīng)和電化學(xué)效應(yīng)（圖2）。
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納米測(cè)量的電流誤差來(lái)源
要測(cè)量弱電流，就必須理解各種潛在的誤差源，這些誤差會(huì)造成人們所不希望出現(xiàn)的測(cè)量誤差。影響多種類(lèi)型的納米電子器件的測(cè)量結(jié)果的兩種極為常見(jiàn)的誤差源是摩擦生電效應(yīng)和電化學(xué)效應(yīng)(圖1)。
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