要測量弱電流,就必須理解各種潛在的誤差源[1],這些誤差會造成人們所不希望出現(xiàn)的測量誤差[2]。影響多種類型的納米電子器件的測量結果的兩種極為常見的誤差源是摩擦生電效應和電化學效應(圖2)。
要測量弱電流,就必須理解各種潛在的誤差源,這些誤差會造成人們所不希望出現(xiàn)的測量誤差。影響多種類型的納米電子器件的測量結果的兩種極為常見的誤差源是摩擦生電效應和電化學效應(圖1)。
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