要測(cè)量弱電流,就必須理解各種潛在的誤差源[1],這些誤差會(huì)造成人們所不希望出現(xiàn)的測(cè)量誤差[2]。影響多種類(lèi)型的納米電子器件的測(cè)量結(jié)果的兩種極為常見(jiàn)的誤差源是摩擦生電效應(yīng)和電化學(xué)效應(yīng)(圖2)。
要測(cè)量弱電流,就必須理解各種潛在的誤差源,這些誤差會(huì)造成人們所不希望出現(xiàn)的測(cè)量誤差。影響多種類(lèi)型的納米電子器件的測(cè)量結(jié)果的兩種極為常見(jiàn)的誤差源是摩擦生電效應(yīng)和電化學(xué)效應(yīng)(圖1)。