在科學研究、工業(yè)制造及航空航天等領域,精密儀器的性能穩(wěn)定性直接關(guān)系到實驗結(jié)果的準確性與產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性。然而,環(huán)境振動作為不可忽視的外部干擾因素,對精密儀器的測量精度、運行壽命及功能可靠性構(gòu)成潛在威脅。本文基于振動測試技術(shù),系統(tǒng)分析環(huán)境振動對精密儀器的影響機制,并通過典型案例探討其測試方法與改進策略。
觀看華邦安全閃存技術(shù)研討會,分享你的設計安全小“芯”思
野火F103開發(fā)板-MINI教學視頻(提高篇)
你不能錯過的單片機課程-1.1.第1季第1部分
javascript運動基礎
C 語言靈魂 指針 黃金十一講 之(2)
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號