PXI vs 獨(dú)立式VNA，高速數(shù)字電路測(cè)試中的性能、靈活性與TCO權(quán)衡

在高速數(shù)字電路測(cè)試領(lǐng)域，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)是不可或缺的“信號(hào)偵探”，其性能直接影響產(chǎn)品良率與研發(fā)效率。面對(duì)5G通信、光子集成電路(PIC)等高密度、高頻率測(cè)試需求，工程師需在PXI模塊化架構(gòu)與獨(dú)立式VNA之間做出關(guān)鍵抉擇。這場(chǎng)技術(shù)博弈的核心，在于平衡性能、靈活性、總擁有成本(TCO)三大維度。