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半導(dǎo)體器件壽命影響因素分析及處理方法
摘 要：浪涌和靜電是影響半導(dǎo)體器件壽命的重要因素。為提高半導(dǎo)體器件的壽命指標(biāo)，文中給出了應(yīng)用于模擬電路的電源軟啟動電路。該電路采用了RC充電原理，可使半導(dǎo)體器件上的電壓逐漸加上，而不會產(chǎn)生有損于半導(dǎo)體器件的浪涌；文中又給出了一款應(yīng)用于數(shù)字電路中的浪涌消除電路，該電路采用了分頻采樣、移位寄存和計算判斷方法，可有效消除因控制開關(guān)或器件管腳接觸不良產(chǎn)生的高低電平交替出現(xiàn)的浪涌信號，該設(shè)計與同類浪涌消除或抖動信號消除電路相比，其時序延時僅為5 ms。
