-
智能天線(xiàn)的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方法
1、引言 智能天線(xiàn)技術(shù)的研究起始于20世紀(jì)60年代，最初的研究對(duì)象是雷達(dá)天線(xiàn)陣，主要目的是提高雷達(dá)的性能和電子對(duì)抗的能力。隨著移動(dòng)通信的發(fā)展及對(duì)移動(dòng)通信電波傳播、組網(wǎng)技術(shù)、天線(xiàn)理論等
-
手機(jī)音頻測(cè)試中常見(jiàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試項(xiàng)目
在多技術(shù)集成的復(fù)雜電磁環(huán)境中，越來(lái)越多的外界干擾影響著音頻的實(shí)際使用效果，然而終端產(chǎn)品（如手機(jī)）的音頻質(zhì)量是影響用戶(hù)體驗(yàn)的關(guān)鍵因素，針對(duì)近期眾多客戶(hù)咨詢(xún)音頻測(cè)試的情況，摩爾實(shí)驗(yàn)室（MORLA
-
SAS的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試碼型
SAS規(guī)范定義了不同的測(cè)試點(diǎn)，以適應(yīng)不同的測(cè)試內(nèi)容的要求。這里面包括可以通過(guò)測(cè)試夾具測(cè)試到的測(cè)試點(diǎn)IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR，在芯片內(nèi)部的發(fā)射端在封裝之前的芯片Die上的測(cè)試點(diǎn)ET，以及
巧克力娃娃
- 得捷芯聞解碼研習(xí)站第一期：探索能源采集芯片的奧義
- 了解華邦優(yōu)質(zhì)技術(shù)資源， 闖三關(guān)，驗(yàn)證您的內(nèi)存/存儲(chǔ)達(dá)人身份
- ST超低功耗MCU來(lái)襲，挑戰(zhàn)趣味游戲，見(jiàn)證STM32U3的電池增壽能力
- PI邀您探索神秘節(jié)能空間，點(diǎn)亮你的專(zhuān)屬“智慧客廳”
- 基恩士新型顯微系統(tǒng)產(chǎn)品“VHX-X1系列”來(lái)襲，填寫(xiě)有獎(jiǎng)問(wèn)卷
- STM32C0系列MCU新品來(lái)襲，更高性能+更低成本，你值得擁有
- 挑戰(zhàn)趣味測(cè)試，驗(yàn)證您是存儲(chǔ)達(dá)人還是內(nèi)存大神
