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SAS的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試碼型
SAS規(guī)范定義了不同的測(cè)試點(diǎn)，以適應(yīng)不同的測(cè)試內(nèi)容的要求。這里面包括可以通過測(cè)試夾具測(cè)試到的測(cè)試點(diǎn)IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR，在芯片內(nèi)部的發(fā)射端在封裝之前的芯片Die上的測(cè)試點(diǎn)ET，以及
SAS規(guī)范定義了不同的測(cè)試點(diǎn)，以適應(yīng)不同的測(cè)試內(nèi)容的要求。這里面包括可以通過測(cè)試夾具測(cè)試到的測(cè)試點(diǎn)IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR，在芯片內(nèi)部的發(fā)射端在封裝之前的芯片Die上的測(cè)試點(diǎn)ET，以及
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