概述當(dāng)前,電子界正在逐漸脫離傳統(tǒng)的測試和測量哲學(xué),而轉(zhuǎn)向更加混合的方法。幾年前,如果要求生成或測量極其精確的數(shù)據(jù)點(diǎn),除了臺式儀器,幾乎沒有可用的解決方案。不過,隨著電子元器件的持續(xù)進(jìn)展,現(xiàn)在已經(jīng)可以制
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