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利用功率循環(huán)測試以分析汽車IGBT芯片的材料性能
汽車功率電子（例如 IGBT）必須設(shè)計(jì)為可達(dá)到數(shù)千小時(shí)的工作時(shí)間和上百萬次功率循環(huán)，承受高達(dá) 200 °C 的溫度?？煽啃杂绕潢P(guān)鍵，而故障成本可能是很大的問題。隨著工業(yè)電子系統(tǒng)對能量需求的增加
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