正電子發(fā)射斷層掃描(PET)作為分子影像技術(shù)的核心,其探測(cè)器性能直接決定成像質(zhì)量。隨著臨床對(duì)設(shè)備小型化、高靈敏度的需求提升,基于硅光電倍增管(SiPM)的探測(cè)器陣列成為研究熱點(diǎn)。然而,SiPM陣列的微型化封裝面臨材料匹配、熱管理、信號(hào)串?dāng)_等關(guān)鍵技術(shù)瓶頸。本文從封裝架構(gòu)、工藝優(yōu)化、性能驗(yàn)證三個(gè)維度,系統(tǒng)解析微型化PET探測(cè)器的技術(shù)挑戰(zhàn)與解決方案。