正電子發(fā)射斷層掃描(PET)作為分子影像技術的核心,其探測器性能直接決定成像質量。隨著臨床對設備小型化、高靈敏度的需求提升,基于硅光電倍增管(SiPM)的探測器陣列成為研究熱點。然而,SiPM陣列的微型化封裝面臨材料匹配、熱管理、信號串擾等關鍵技術瓶頸。本文從封裝架構、工藝優(yōu)化、性能驗證三個維度,系統(tǒng)解析微型化PET探測器的技術挑戰(zhàn)與解決方案。
學習狀態(tài)監(jiān)控CbM系統(tǒng)設計,完成測試
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