本文討論了射頻和微波開關(guān)測試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題,包括不同的開關(guān)種類,RF開關(guān)卡規(guī)格,和有助于測試工程師提高測試吞吐量并降低測試成本的RF開關(guān)設(shè)計中需要考慮的問題。
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