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時間就是負(fù)載開關(guān)的一切！
對于最終用戶來說，打開電子設(shè)備很簡單；只需按一下按鈕。然而，創(chuàng)造流暢的通電體驗需要付出很多努力。過快開啟系統(tǒng)可能會通過不受控制的大浪涌電流尖峰導(dǎo)致電源故障。對于基于微處理器或 FPGA 的應(yīng)用，正確的操作需要特定的電源軌排序要求。有時最好在啟用下游電路之前等待某些子系統(tǒng)上電。使用負(fù)載開關(guān)管理設(shè)備電源排序可以為最終用戶提供流暢的開機體驗。 像蠟燭一樣，功率MOSFET（功率場效應(yīng)晶體管）是切換負(fù)載最常見的方式，其四周圍繞著眾多分立電阻器與電容器（以及用于控制功率MOSFET的雙極結(jié)型晶體管（BJT）/第二個場效應(yīng)晶體管）圍繞的功率MOSFET）。但在多數(shù)情況下，使用全面集成的負(fù)載開關(guān)具有更顯著的優(yōu)點。
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新型補償式溫度巡檢電路設(shè)計 提高溫度檢測精度
介紹了一種新型的補償式溫度巡檢電路，該電路通過巧妙的設(shè)計克服了傳統(tǒng)三線制檢測方法中測量導(dǎo)線對測量結(jié)果的影響，提高了溫度檢測精度。同時該電路通過分組共享的方式完成
