ORTEC帶電粒子硅探測器主要有金硅面壘和離子注入兩種工藝,耗盡層厚度從10微米到幾個毫米厚不等。而根據(jù)其幾何形狀與是否全耗盡又分為諸多類型。選擇合適的帶電粒子探測器,除應用本身外,應綜合權衡耗盡層厚度、結電
學習狀態(tài)監(jiān)控CbM系統(tǒng)設計,完成測試
一天學會Allegro進行4層產(chǎn)品PCB設計-高效實用
UART,SPI,I2C串口通信
AVR單片機十日通(上)
C語言之9天掌握C語言
內(nèi)容不相關 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號