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T-Clock技術(shù) 實(shí)現(xiàn)PXI整合同步測試
由于單部儀器上的觸發(fā)/響應(yīng)通道有限，或因?yàn)樾枰旌闲盘柕挠|發(fā)/響應(yīng)信道，因此許多測試與測量應(yīng)用，將需要對多部儀器進(jìn)行時(shí)間控制與同步化。舉例來說，一部示波器可能最多有 4 個(gè)信道，而信號發(fā)生器最多有 2 個(gè)通道
由于單部儀器上的觸發(fā)/響應(yīng)通道有限，或因?yàn)樾枰旌闲盘柕挠|發(fā)/響應(yīng)信道，因此許多測試與測量應(yīng)用，將需要對多部儀器進(jìn)行時(shí)間控制與同步化。舉例來說，一部示波器可能最多有 4 個(gè)信道，而信號發(fā)生器最多有 2 個(gè)通道
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