電子產(chǎn)品可靠性預(yù)計(jì)：方法與實(shí)踐

在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)的早期階段，可靠性預(yù)計(jì)是一項(xiàng)至關(guān)重要的工作。它旨在通過(guò)科學(xué)的方法和工具，預(yù)測(cè)產(chǎn)品在特定工作環(huán)境和使用條件下的可靠性表現(xiàn)，從而為后續(xù)的設(shè)計(jì)優(yōu)化、元器件選擇、生產(chǎn)質(zhì)量控制等提供關(guān)鍵依據(jù)。本文將深入探討電子產(chǎn)品可靠性預(yù)計(jì)的方法與實(shí)踐，包括基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的預(yù)計(jì)、物理模型預(yù)計(jì)、加速壽命試驗(yàn)以及基于仿真的預(yù)計(jì)等。