在電子產(chǎn)品設計與開發(fā)的早期階段,可靠性預計是一項至關重要的工作。它旨在通過科學的方法和工具,預測產(chǎn)品在特定工作環(huán)境和使用條件下的可靠性表現(xiàn),從而為后續(xù)的設計優(yōu)化、元器件選擇、生產(chǎn)質(zhì)量控制等提供關鍵依據(jù)。本文將深入探討電子產(chǎn)品可靠性預計的方法與實踐,包括基于統(tǒng)計數(shù)據(jù)的預計、物理模型預計、加速壽命試驗以及基于仿真的預計等。
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