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根據(jù)示波器測定MOSFET波形計(jì)算功率損耗
MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測驗(yàn)是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié)，但很多工程師對(duì)開關(guān)損耗的測量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上，PFC MOSFET的開關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸索，那么如何用示波器測試MOS管功率損耗？
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什么是阻抗匹配？一分鐘教你如何做好阻抗匹配
阻抗匹配(impedance matching) 主要用于傳輸線上，以此來達(dá)到所有高頻的微波信號(hào)均能傳遞至負(fù)載點(diǎn)的目的，而且?guī)缀醪粫?huì)有信號(hào)反射回來源點(diǎn)，從而提升能源效益。信號(hào)源內(nèi)阻與所接傳輸線的特性阻抗大小相等且相位相同，或傳輸線的特性阻抗與所接負(fù)載阻抗的大小相等且相位相同，分別稱為傳輸線的輸入端或輸出端處于阻抗匹配狀態(tài)，簡稱為阻抗匹配。
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動(dòng)態(tài)電源控制可最大程度降低功率損耗、提高溫度范圍
人們可能希望讓工業(yè)系統(tǒng)中的DAC驅(qū)動(dòng)寬范圍負(fù)載。采用固定電源供電的DAC可能會(huì)在芯片上產(chǎn)生大量功耗，尤其當(dāng)負(fù)載較小或發(fā)生短路至地等情況時(shí)。此功耗可能會(huì)讓溫度上升至超過
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用數(shù)字熒光示波器對(duì)開關(guān)電源功率損耗進(jìn)行精確分析
隨著電子產(chǎn)品對(duì)開關(guān)電源需求不斷增長，下一代開關(guān)電源的功率損耗測量分析也越來越重要。本文介紹如何將數(shù)字熒光示波器和功率測量軟件結(jié)合起來，迅速測定開關(guān)電源的功率損耗
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MOS管功率損耗竟然還可以這么測
MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié)，但很多工程師對(duì)開關(guān)損耗的測量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上，PFC MOSFET的開關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸索，那么該如何量化評(píng)估呢?
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將電磁感應(yīng)加熱應(yīng)用的IGBT功率損耗降至最低
近年來，人們使用的電器產(chǎn)品數(shù)量不斷增多，致使每個(gè)家庭內(nèi)的總能耗穩(wěn)步上升，不僅大多數(shù)西方國家是這樣，新興國家亦是如此。與這些能耗相關(guān)的成本也已經(jīng)增加，因?yàn)槿剂腺Y源
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