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光電測(cè)試原理和基本知識(shí)（一）
有源光電器件的特性描述絕不僅僅只需要 一個(gè)電流源 有源的光電器件是一個(gè)基本的半導(dǎo)體 結(jié)，為了更全面的測(cè)試，不僅要求對(duì)其做 正向的I-V特性測(cè)試，也要求監(jiān)測(cè)反向的 I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管
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光電測(cè)試原理和基本知識(shí)（二）
微弱電流的測(cè)試需要驅(qū)動(dòng)保護(hù)(Driven Guard) Keithley的測(cè)量設(shè)備中獨(dú)一無(wú)二的是，保護(hù)回路的引入將測(cè)試線與圍繞測(cè) 試線的導(dǎo)體之間的電勢(shì)差降到最小(圖 8)。當(dāng)源測(cè)試線與保護(hù)線之間的電勢(shì)差很小時(shí)，潛在的
小軒窗
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