摘 要:針對(duì)提取人臉特征時(shí)光照干擾的問題,提出一套完備的抗光照人臉識(shí)別系統(tǒng)。削弱光照影響可以從預(yù)處理與構(gòu)建特征臉兩個(gè)階段考慮。預(yù)處理階段采用直方圖均衡化圖像處理技術(shù),構(gòu)建特征臉階段選取光照錐方法進(jìn)行光照補(bǔ)償 以削弱系統(tǒng)中的光照影響。從實(shí)現(xiàn)效果看,算法滿足人臉識(shí)別的要求
泰克全棧式電源測(cè)試解決方案來襲,讓AI數(shù)據(jù)中心突破性能極限
51單片機(jī)到ARM征服嵌入式系列課程
小 i linux驅(qū)動(dòng) 學(xué)習(xí)秘籍
Altium19/AD18零基礎(chǔ)入門實(shí)戰(zhàn)視頻課程字幕版
編程魔法師之多按鍵
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯(cuò)誤 其它
本站介紹 | 申請(qǐng)友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號(hào):京ICP證070360號(hào) 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報(bào)窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號(hào)