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光子計數CT成像技術：半導體探測器如何突破傳統(tǒng)X射線成像瓶頸
傳統(tǒng)X射線CT成像技術依賴能量積分探測器（EID），通過測量射線穿透人體后的總能量吸收生成圖像。然而，該方法存在能量混疊、噪聲累積和輻射劑量高等固有缺陷，限制了其在早期疾病診斷中的應用。光子計數CT（PCCT）技術通過引入半導體探測器，實現了對單個X射線光子的直接檢測與能量分析，為醫(yī)學影像領域帶來革命性突破。
傳統(tǒng)X射線CT成像技術依賴能量積分探測器（EID），通過測量射線穿透人體后的總能量吸收生成圖像。然而，該方法存在能量混疊、噪聲累積和輻射劑量高等固有缺陷，限制了其在早期疾病診斷中的應用。光子計數CT（PCCT）技術通過引入半導體探測器，實現了對單個X射線光子的直接檢測與能量分析，為醫(yī)學影像領域帶來革命性突破。
