引言 在許多物理實(shí)驗(yàn)(核聚變實(shí)驗(yàn)裝置托卡馬克的放電實(shí)驗(yàn))的數(shù)據(jù)采集過(guò)程中,由于待測(cè)信號(hào)微弱且測(cè)試環(huán)境電磁輻射嚴(yán)重等因素,在數(shù)據(jù)采集前端往往需要對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波和放大等信號(hào)調(diào)理操作,以濾除信號(hào)噪聲并將待
巧克力娃娃
我與貿(mào)澤不得不說(shuō)的秘密,如何讓選型和設(shè)計(jì)更輕松與愜意?
AVR單片機(jī)十日通(下)
Altium Designer 19實(shí)戰(zhàn)速成視頻
一天學(xué)會(huì)使用PADS進(jìn)行產(chǎn)品PCB設(shè)計(jì)-高效實(shí)用
編程魔法師大思想
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯(cuò)誤 其它
本站介紹 | 申請(qǐng)友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠(chéng)聘英才
ICP許可證號(hào):京ICP證070360號(hào) 21IC電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報(bào)窗口( 郵箱:macysun@21ic.com 電話:010-82165003 )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號(hào)