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是德科技晶圓級解決方案平臺完美集成低頻噪聲測量
是德科技公司(NYSE：KEYS)宣布推出最新款的高性能先進(jìn)低頻噪聲分析儀(A-LFNA)，旨在實(shí)施快速、準(zhǔn)確、可重復(fù)的低頻噪聲測量。
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中國賽寶實(shí)驗(yàn)室采用是德科技低頻噪聲測量系統(tǒng)進(jìn)行器件可靠性研究
是德科技公司(NYSE：KEYS)日前宣布，中國賽寶實(shí)驗(yàn)室在其半導(dǎo)體器件(包括 MOSFET、HEMT 和 TFT等)可靠性研究中成功采用 Keysight EEsof EDA E4727A 先進(jìn)低頻噪聲分析儀(A-LFNA)實(shí)施閃變噪聲(1/f 噪聲)和隨機(jī)電報噪聲
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高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應(yīng)用研究--高阻樣品噪聲測試解決方案
3.2 高阻樣品噪聲測試解決方案為解決國內(nèi)外現(xiàn)有高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)中存在的問題，本文設(shè)計(jì)了兩種噪聲測試技術(shù)作為解決方案，分別是一種電壓噪聲測試技術(shù)和一種電流噪聲測試技術(shù)。這兩種技術(shù)分別解決了前文中描
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高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應(yīng)用研究--測試技術(shù)介紹
電壓噪聲測試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)是一套同時基于軟件和硬件平臺的測試系統(tǒng)。其中硬件平臺由前端適配器、若干同軸電纜、放大電路、數(shù)據(jù)采集卡、計(jì)算機(jī)組成。軟件平臺由數(shù)據(jù)采集軟件模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊組成。硬件
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高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應(yīng)用研究文獻(xiàn)匯總,包括技術(shù)理論及解決方案
電子器件或材料按其等效電阻大小可劃分為：高阻器件、中阻器件、低阻器件。根據(jù)傳統(tǒng)噪聲測試原理，改進(jìn)已有噪聲測試技術(shù)和測試方法還可以繼續(xù)測量一些等效阻值在該范圍之外的器件的噪聲，這些器件被定義為低阻器件或
