動態(tài)測試關(guān)注的是器件的傳輸和性能特征,即采樣和重現(xiàn)時(shí)序變化信號的能力,相比之下,線性測試關(guān)注的則是器件內(nèi)部電路的誤差。對ADC誤差,這些參數(shù)說明了靜止的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號的情況,主要關(guān)注具體電平與
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