綜合電流注入效率、輻射發(fā)光量子效率、芯片外部光取出效率等,最終大概只有30-40%的輸入電能轉(zhuǎn)化為光能,其余60-70%的能量主要以非輻射復(fù)合發(fā)生的點(diǎn)陣振動的形式轉(zhuǎn)化熱能。而芯片溫度的升高,則會增強(qiáng)非輻射復(fù)合,進(jìn)
隨著最近更高功率及效率的新LED出現(xiàn),LED被迅速應(yīng)用到新的領(lǐng)域,例如手電筒及車載設(shè)備中。高功率LED甚至被應(yīng)用到了長期由白熾燈和熒光燈占據(jù)的環(huán)境照明領(lǐng)域中。為高功率LED供電,最好方法是電流源。因?yàn)榻^大部分能源
LED是一類可直接將電能轉(zhuǎn)化為可見光和輻射能的發(fā)光器件,具有工作電壓低,耗電量小,發(fā)光效率高,發(fā)光響應(yīng)時(shí)間極短,光色純,結(jié)構(gòu)牢固,抗沖擊,耐振動,性能穩(wěn)定可靠,重量輕,體積小,成本低等一系列特性,發(fā)展突飛
長電池壽命是便攜式電子產(chǎn)品市場的關(guān)鍵指標(biāo)。LCD顯示器的LED背光驅(qū)動器占了總有效系統(tǒng)功耗的25%至40%。在過去,設(shè)計(jì)師盡量減少背光顯示器功耗的工具僅限于降低LED驅(qū)動電流,同時(shí)提高轉(zhuǎn)換器的效率。今天,高達(dá)50%的電
摘要:在綜合分析LED大屏幕顯示系統(tǒng)設(shè)計(jì)中控制電路的諸多設(shè)計(jì)方案的基礎(chǔ)上,分別給出了以單片機(jī)、可編程邏輯器件和嵌入式計(jì)算機(jī)技術(shù)為控制核心的不同設(shè)計(jì)方案的實(shí)現(xiàn)方法,對這幾種方案的特點(diǎn)進(jìn)行了比較,并介紹了應(yīng)用
摘要:分析了數(shù)控制碼系統(tǒng)中數(shù)據(jù)處理的特點(diǎn),討論了數(shù)控系統(tǒng)中兩種傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理方法及三種改進(jìn)方法。綜合分析各種方法的優(yōu)缺點(diǎn),結(jié)合制碼系統(tǒng)中數(shù)據(jù)處理的特點(diǎn),提出了一種更適用的數(shù)據(jù)處理新方法。該方法即節(jié)約了
摘要:介紹了一種應(yīng)用于微機(jī)器人控制平臺的語音識別算法,可實(shí)現(xiàn)簡單命令詞語的識別,控制微機(jī)器人的移動。利用K均值分段法,在每次計(jì)算完觀察值最佳狀態(tài)序列后,插入一個(gè)重估過程,隨時(shí)調(diào)整參數(shù)以識別下一個(gè)句子。實(shí)
摘要:闡述了一種基于SOPC的步進(jìn)電機(jī)多軸控制器。該控制器應(yīng)用于半自動生化分析儀中,以實(shí)現(xiàn)取樣針移位系統(tǒng)的控制功能,同時(shí)它也能夠用于其他類似如多軸聯(lián)動的針式打印機(jī)及機(jī)器人等領(lǐng)域的多步進(jìn)電機(jī)工作的場合。關(guān)鍵
相比模擬攝像機(jī),IP攝像機(jī)給用戶帶來的是技術(shù)上的變革與全新的用戶體驗(yàn)。在技術(shù)層面上,傳統(tǒng)的白平衡、背光補(bǔ)償、寬動態(tài)技術(shù)已經(jīng)是最低標(biāo)配。技術(shù)是不斷發(fā)展進(jìn)步,IP攝像機(jī)之所以能如此快速的發(fā)展,安防行業(yè)快速增長
夏普在2011年遭遇了巨虧,全年虧損了2900億日元(約合38億美元),成為公司成立以來最大規(guī)模的年度虧損。這個(gè)除了和地震等天災(zāi)有關(guān)以外,也和液晶電視需求萎縮不無關(guān)系,即使發(fā)展大尺寸液晶面板也可能不會很快改善公司
芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理,第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應(yīng)用,第三章介紹了
使用的同步串行三線SPI接口,可以方便的連接采用SPI通信協(xié)議的外圍或另一片AVR單片機(jī),實(shí)現(xiàn)在短距離內(nèi)的高速同步通信。ATmega128的SPI采用硬件方式實(shí)現(xiàn)面向字節(jié)的全雙工3線同步通信,支持主機(jī)、從機(jī)和2種不同極性的S
芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是第三章。我們在第一章介紹了芯片測試的基本原理;第二章討論了怎么把這些基本原理應(yīng)用到存儲器和邏輯芯片的測試上;本文
摘要:以TI公司的DSP為例對基于以太網(wǎng)的DSP遠(yuǎn)程加載技術(shù)進(jìn)行研究。首先介紹了遠(yuǎn)程加載需要的硬件基礎(chǔ)與軟件基礎(chǔ),然后重點(diǎn)研究了基于以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程加載的方法,包括遠(yuǎn)程加載流程、網(wǎng)絡(luò)接口程序設(shè)計(jì)以及Flash存儲模型設(shè)
在如今的半導(dǎo)體領(lǐng)域,要確定集成電路器件的功能性是否滿足要求,往往需要對其進(jìn)行多種電測試。其中一項(xiàng)就是測量器件的時(shí)序,這時(shí)必須用到測時(shí)儀(TMU)。什么是測時(shí)儀?測時(shí)儀是一種半導(dǎo)體自動測試設(shè)備(ATE),負(fù)責(zé)測量