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不同芯片的測(cè)試方法

半導(dǎo)體的生產(chǎn)流程包括晶圓制造和封裝測(cè)試，在這兩個(gè)環(huán)節(jié)中分別需要完成晶圓檢測(cè)(CP, Circuit Probing)和成品測(cè)試(FT, Final Test)。無(wú)論哪個(gè)環(huán)節(jié)，要測(cè)試芯片的各項(xiàng)...

2023-03-13 15:20:01

面向FPGA芯片開(kāi)發(fā)的測(cè)試方法設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

...測(cè)試方法設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，并附帶相關(guān)代碼示例，以助于讀者深入理解FPGA測(cè)試的流程和技術(shù)。一、FPGA測(cè)試的重要性FPGA測(cè)試是確保設(shè)計(jì)正確性和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在FPGA開(kāi)發(fā)過(guò)程...

2024-06-26 15:39:58

基于J750的S698PM芯片BSD測(cè)試方法

...測(cè)試方法和測(cè)試原理摸索，逐漸形成前兩項(xiàng)測(cè)試內(nèi)容標(biāo)準(zhǔn)：一個(gè)是電流功耗測(cè)試，另外一個(gè)就是BSD測(cè)試項(xiàng)目流程。2.S698PM芯片簡(jiǎn)介S698PM芯片是一款抗輻照型的高性能、高可靠...

2017-08-21 09:27:38

基于TMSF240芯片的內(nèi)部FLASH自測(cè)試方法

...測(cè)試方法。1問(wèn)題描述在CPU處理器無(wú)自帶FLASH空間的情況下，我們選用市場(chǎng)上專(zhuān)用的FLASH芯片，通過(guò)硬件設(shè)計(jì)該FLASH芯片的每一個(gè)地址空間都是可以訪(fǎng)問(wèn)的，我們可以指定不...

2013-06-27 17:58:53

基于TMSF240芯片的內(nèi)部FLASH的一種自測(cè)試方法

...測(cè)試方法。關(guān)鍵詞：內(nèi)部FLASH；自測(cè)試；飛控計(jì)算機(jī)0引言目前DSP芯片不僅廣泛應(yīng)用于機(jī)載設(shè)備中，也越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于飛控計(jì)算機(jī)和自動(dòng)駕駛...

2012-05-15 15:56:37

基于TMSF240芯片的內(nèi)部FLASH的一種自測(cè)試方法

...測(cè)試方法。關(guān)鍵詞：內(nèi)部FLASH；自測(cè)試；飛控計(jì)算機(jī)0引言目前DSP芯片不僅廣泛應(yīng)用于機(jī)載設(shè)備中，也越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于飛控計(jì)算機(jī)和自動(dòng)駕駛...

2012-05-13 04:01:08

無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片靈敏度測(cè)試方法研究

...測(cè)試方法采用常規(guī)儀器對(duì)800～1000MHz頻段內(nèi)靈敏度進(jìn)行測(cè)試，有重要實(shí)際意義。關(guān)鍵詞：靈敏度；RFID；UHF；標(biāo)簽芯片；IC0引言 R...

2012-04-05 14:50:25

一種UHF無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片阻抗測(cè)試方法研究

...測(cè)試方法很難準(zhǔn)確地對(duì)電子標(biāo)簽芯片阻抗進(jìn)行測(cè)試。本文研究了UHF無(wú)源單芯片阻抗測(cè)試方法，通過(guò)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)芯片阻抗測(cè)試，對(duì)測(cè)試方法進(jìn)行了檢驗(yàn)。1測(cè)試原理 &nbs...

2011-07-18 19:14:04

A/D轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試環(huán)境構(gòu)成及測(cè)試方法

...測(cè)試方法測(cè)試A/D芯片的幾種常用方法有柱形圖(Histogram)分析法、離散參數(shù)傅立葉(FFT)變換法、拍頻(Beatfrequency)測(cè)試法等。還有一種正弦波曲線(xiàn)擬合法...

2009-03-20 11:17:40

A/D轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試環(huán)境構(gòu)成及測(cè)試方法

...測(cè)試方法測(cè)試A/D芯片的幾種常用方法有柱形圖(Histogram)分析法、離散參數(shù)傅立葉(FFT)變換法、拍頻(Beatfrequency)測(cè)試法等。還有一種正弦波曲線(xiàn)擬合法...

2009-03-17 23:22:13

一種系統(tǒng)芯片的功能測(cè)試方法

...測(cè)試方法分析，最終實(shí)現(xiàn)一個(gè)完整的測(cè)試平臺(tái)。該系統(tǒng)除了闡述功能測(cè)試平臺(tái)的實(shí)現(xiàn)方法外，同時(shí)也對(duì)待測(cè)芯片——“成電之芯”進(jìn)行了充分的測(cè)試，為每一塊芯片的功能是否完好提供了重要依據(jù)。

2008-08-06 09:14:00

一種系統(tǒng)芯片的功能測(cè)試方法

...測(cè)試方法分析，最終實(shí)現(xiàn)一個(gè)完整的測(cè)試平臺(tái)。該系統(tǒng)除了闡述功能測(cè)試平臺(tái)的實(shí)現(xiàn)方法外，同時(shí)也對(duì)待測(cè)芯片——“成電之芯”進(jìn)行了充分的測(cè)試，為每一塊芯片的功能是否完好提供了重要依據(jù)。

2008-08-03 21:14:00

諧波減速器性能測(cè)試方法有哪些？諧波減速器適用領(lǐng)域介紹

...測(cè)試方法根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和需求，選擇適合的測(cè)試方法。諧波減速器的性能測(cè)試方法有很多種，常見(jiàn)的有：精度檢測(cè) ：評(píng)估諧波減速器的定位精度和重復(fù)定位精度，以確保其在實(shí)際應(yīng)用中...

2025-08-22 14:09:46

5G網(wǎng)絡(luò)時(shí)延測(cè)試方法論，空口延遲、核心網(wǎng)轉(zhuǎn)發(fā)與端到端時(shí)延的分層測(cè)量

...測(cè)試方法，而ETSI正制定核心網(wǎng)時(shí)延的Y.3037標(biāo)準(zhǔn)。中國(guó)信通院推出的“綻放杯”比賽，已將分層時(shí)延測(cè)試納入5G應(yīng)用創(chuàng)新評(píng)審體系，推動(dòng)產(chǎn)業(yè)共識(shí)形成。未來(lái)趨勢(shì)：從測(cè)量到主動(dòng)調(diào)控...

2025-08-13 15:50:33

常規(guī)信號(hào)(射頻)參數(shù)測(cè)試方法

...測(cè)試方法：將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的1端口連接至待測(cè)試電路的輸入端，2端口連接至輸出端。在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上，顯示的S12數(shù)值代表電路的增益（GAIN），S11代表輸入端的反射系數(shù)，S...

2025-07-22 23:16:26

電解電容紋波電流測(cè)試方法

...測(cè)試方法。測(cè)試原理與核心參數(shù)紋波電流是指流過(guò)電容的交流分量電流，其產(chǎn)生源于電路中直流電壓的波動(dòng)。電解電容通過(guò)充放電過(guò)程吸收這些交流分量，但若紋波電流超過(guò)額定值，會(huì)導(dǎo)致電容內(nèi)部...

2025-07-22 13:17:09

如何檢修開(kāi)關(guān)電源故障？開(kāi)關(guān)電源負(fù)載測(cè)試方法有哪些

...測(cè)試方法有哪些1.按比例調(diào)整負(fù)載：該方法通過(guò)不斷調(diào)整負(fù)載電阻的大小，使得電源輸出的電流按照預(yù)定的比例逐漸增加。通過(guò)記錄不同負(fù)載下的電壓和電流數(shù)值，可以繪制出開(kāi)關(guān)電源的輸出特性...

2025-05-19 14:46:49

電動(dòng)汽車(chē)和混動(dòng)汽車(chē) DC-DC 轉(zhuǎn)換器的創(chuàng)新設(shè)計(jì)與測(cè)試方法

...測(cè)試方法與挑戰(zhàn)仿真寬禁帶器件設(shè)計(jì)的挑戰(zhàn)寬禁帶器件的出現(xiàn)使DC-DC轉(zhuǎn)換器的仿真和設(shè)計(jì)復(fù)雜度大幅提升。由于GaN和SiC器件制造商對(duì)器件的表征有限，用戶(hù)需自行逐個(gè)測(cè)試，以確定其...

2025-05-12 09:05:31

VCSEL的測(cè)試方法有哪些？VCSEL有哪些應(yīng)用

...測(cè)試方法1、光譜測(cè)試通過(guò)光譜分析儀，我們可以詳細(xì)了解VCSEL的光譜特性，如中心波長(zhǎng)、譜寬以及邊模抑制比（SMSR）等關(guān)鍵參數(shù)。這些數(shù)據(jù)對(duì)于評(píng)估VCSEL的整體性能至關(guān)重要。...

2025-03-23 19:45:56

PCBA 常見(jiàn)的安全性和可靠性測(cè)試方法有哪些

...測(cè)試方法從多個(gè)維度對(duì)PCBA進(jìn)行全面檢測(cè)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題，為產(chǎn)品質(zhì)量保駕護(hù)航。電氣安全測(cè)試絕緣電阻測(cè)試絕緣電阻測(cè)試是評(píng)估PCBA電氣安全性能的基礎(chǔ)測(cè)試之一。通過(guò)使用絕緣電阻...

2025-02-20 11:40:18

開(kāi)關(guān)電源中紋波的測(cè)試方法

...測(cè)試方法3.1.以20M示波器帶寬為限制標(biāo)準(zhǔn)，電壓設(shè)為PK-PK(也有測(cè)有效值的)，去除示波器控頭上的夾子與地線(xiàn)(因?yàn)檫@個(gè)本身的夾子與地線(xiàn)會(huì)形成環(huán)路，像一個(gè)天線(xiàn)接收雜訊，引入...

2024-10-22 10:30:42

電源模塊紋波噪聲的測(cè)試方法

...測(cè)試方法對(duì)于中小微功率模塊電源的紋波噪聲測(cè)試，業(yè)內(nèi)主要采用平行線(xiàn)測(cè)試法和靠接法兩種。其中，平行線(xiàn)測(cè)試法用于引腳間距相對(duì)較大的產(chǎn)品，靠測(cè)法用于模塊引腳間距小的產(chǎn)品。但不管用平行...

2024-10-20 22:05:06

利用電容測(cè)試方法開(kāi)創(chuàng)鍵合線(xiàn)檢測(cè)新天地

...測(cè)試方法概述測(cè)試鍵合線(xiàn)缺陷時(shí)，最廣泛采用的方法包括使用自動(dòng)X射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)(AXI)進(jìn)行光學(xué)/X射線(xiàn)檢測(cè)，以及借助自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)進(jìn)行電氣測(cè)試。AXI技術(shù)通過(guò)使用X射線(xiàn)的...

2024-10-15 16:49:02

利用電容式測(cè)試方法在引線(xiàn)鍵合檢測(cè)方面取得新突破

...測(cè)試方法概述測(cè)試引線(xiàn)鍵合缺陷最廣泛采用的方法是使用自動(dòng)X射線(xiàn)檢測(cè)(AXI)的光學(xué)/X射線(xiàn)檢測(cè)和使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的電氣測(cè)試方法。AXI使用X射線(xiàn)穿透并捕獲引線(xiàn)鍵合的詳...

2024-10-13 20:11:32

DC/DC電源紋波噪聲的測(cè)試方法

...測(cè)試方法對(duì)于中小微功率模塊電源的紋波噪聲測(cè)試，業(yè)內(nèi)主要采用平行線(xiàn)測(cè)試法和靠接法兩種。其中，平行線(xiàn)測(cè)試法用于引腳間距相對(duì)較大的產(chǎn)品，靠測(cè)法用于模塊引腳間距小的產(chǎn)品。但不管用平行...

2024-08-20 10:25:07

【測(cè)試案例分享】Keithley電化學(xué)測(cè)試方法與應(yīng)用

...測(cè)試方法和應(yīng)用。表1-電化學(xué)測(cè)試方法及應(yīng)用循環(huán)伏安法循環(huán)伏安法（簡(jiǎn)稱(chēng)CV）是一種電位掃描法，是最常用的電化學(xué)測(cè)量技術(shù)，通常使用3電極的蓄電池。圖1展示了一個(gè)典型的電化學(xué)測(cè)量電...

2024-07-25 12:03:17

各類(lèi)紫外光源輻通量的測(cè)試方法及其實(shí)例

...測(cè)試方法，并結(jié)合實(shí)例進(jìn)行說(shuō)明。二、紫外光源輻通量的測(cè)試方法積分球法積分球法是一種常用的紫外光源輻通量測(cè)試方法。該方法利用積分球內(nèi)壁的漫反射特性，將被測(cè)紫外光源置于積分球中心，...

2024-06-26 15:31:19

電源模塊紋波及噪聲測(cè)試方法

...測(cè)試方法紋波噪聲測(cè)試是檢測(cè)直流輸出電壓的紋波及噪聲，通常情況下對(duì)其標(biāo)準(zhǔn)是：≤輸出電壓的1%。在測(cè)試過(guò)程中，需要用到交流電源、電子負(fù)載、示波器、溫控室等測(cè)試設(shè)備。測(cè)試條件：各種...

2024-05-24 12:00:02

無(wú)線(xiàn)通信設(shè)備的測(cè)試方法有哪些？

...測(cè)試方法有多種，常見(jiàn)的測(cè)試場(chǎng)景包括以下幾種：室內(nèi)測(cè)試場(chǎng)景：針對(duì)無(wú)線(xiàn)設(shè)備在室內(nèi)環(huán)境下的性能表現(xiàn)進(jìn)行測(cè)試。由于室內(nèi)環(huán)境存在多種障礙物，如墻壁、家具等，可能會(huì)對(duì)無(wú)線(xiàn)信號(hào)產(chǎn)生影響，因...

2024-01-17 10:20:02

無(wú)線(xiàn)通信設(shè)備的測(cè)試方法包括哪些？

...測(cè)試方法和衡量單位。靈敏度(Sensitivity)靈敏度是指系統(tǒng)能夠在特定信噪比(SNR)下接收和識(shí)別信號(hào)的能力。測(cè)試方法是在信號(hào)質(zhì)量惡劣的環(huán)境下，逐漸減小信號(hào)強(qiáng)度，直到系...

2023-12-30 14:20:01

SABIC 開(kāi)發(fā)出用于評(píng)估電動(dòng)汽車(chē)電池包材料安全性能的全新測(cè)試方法

...測(cè)試方法，可獨(dú)立控制溫度、熱量流量和顆粒沖擊，以重現(xiàn)電池包熱失控場(chǎng)景中的真實(shí)條件。該項(xiàng)全新方法有助于快速測(cè)試和開(kāi)發(fā)新材料，以滿(mǎn)足預(yù)防熱失控過(guò)程中的苛刻條件。綜合測(cè)試包括對(duì)SA...

2023-12-12 16:24:22