自動化測試設(shè)備是現(xiàn)今消費性電子產(chǎn)品、通訊、醫(yī)療設(shè)備等許多產(chǎn)業(yè)賴以進(jìn)行檢測晶片功能規(guī)格、確保終端產(chǎn)品品質(zhì)的工具。伴隨著智能產(chǎn)品的不斷推出，使得測試過程要求更加嚴(yán)格。愛德萬測試為全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)最大自動化測試設(shè)備供應(yīng)商，致力于提供為客戶提供先進(jìn)測試系統(tǒng)。

近年來手機(jī)、Memory以及虛擬貨幣市場的爆發(fā)，使得芯片測試需求增加。愛德萬測試管理有限公司VP夏克金博士表示：“為了面對新興領(lǐng)域的發(fā)展趨勢，愛德萬測試在5G、IoT、數(shù)據(jù)中心、云測試服務(wù)等方面都做了相應(yīng)的方案。”與此同時，為了服務(wù)更多的有測試需要的人群，愛德萬測試還推出了愛德萬測試大學(xué)計劃，用視頻教育來幫助學(xué)生們了解測試過程。

(愛德萬測試管理有限公司VP 夏克金 博士)

在本次發(fā)布會中，不僅有夏博士為我們介紹了目前愛德萬測試公司的發(fā)展情況，還有工程師為我們介紹了愛德萬測試的新產(chǎn)品。

PCIe Gen 4 SSD解決方案——MPT3000平臺

由于SSD是高性能企業(yè)和數(shù)據(jù)中心應(yīng)用程序選用的專門存儲媒介，所以現(xiàn)在PCIe在SSDs中發(fā)揮的作用變得更加重要。然而，低價位的非易失性存儲器耐久性有限，而且因為生產(chǎn)技術(shù)也在不斷更新，因此制造了巨大的挑戰(zhàn)。對此，愛德萬測試推出了業(yè)界第一個完全集成的固態(tài)硬盤測試解決方案——MPT3000 平臺。

愛德萬測試管理有限公司高級測試應(yīng)用工程師Kelvin Chen介紹：“ MPT3000平臺現(xiàn)在可以覆蓋 PCIe Gen 4設(shè)備的所有測試需求，用戶可以在 MPT3000 上直接開發(fā) PCIE Gen4，而不用等待第三方廠商提供測試方案。同時，該方案也兼容 PCIe Gen 3、SATA 和 SAS 等協(xié)議的固態(tài)硬盤的測試開發(fā)以及量產(chǎn)。”

MPT3000平臺向用戶提供一套從設(shè)計到制造的測試流程，并使用與愛德萬測試已經(jīng)投入市場的 PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構(gòu)和軟件，從而簡化了向下一代產(chǎn)品升級的過程。

V93000測試系統(tǒng)再升級， 搭載FVI16高功率板卡

在汽車電子領(lǐng)域，隨著越來越多的廠商陸續(xù)將智能汽車的概念付諸現(xiàn)實，汽車中用到的高功率器件越來越多，廠商該怎樣保障其安全。除此之外，在工業(yè)控制，大功率快速充電等領(lǐng)域?qū)Ω唠妷骸⒋箅娏鞯男枨蟮榷紝y試設(shè)備提出了新要求。對此，愛德萬測試本次推出了FVI16高功率板卡來替換之前的PVI8板卡，新款板卡將PVI8板卡8個浮動的獨立通道提升至16個，有效地降低了測試成本和測試時間。

愛德萬測試管理有限公司高級測試工程師Dynax Chen介紹：“與采用傳統(tǒng)模擬反饋的其它測試系統(tǒng)相比，搭載 FVI16 板卡的 V93000 測試系統(tǒng)的數(shù)字反饋回路設(shè)計提供了市場上最佳的信號源，測量精度和模擬功率性能。 數(shù)字反饋技術(shù)提供多種獨特功能，包括無毛刺的“智能連接”和恒定的開爾文監(jiān)控，實現(xiàn)可靠的和高精度的測量。用戶控制的斜率和帶寬設(shè)置可以實現(xiàn)快速建立穩(wěn)定時間以適應(yīng)各自的負(fù)載條件。”

高速存儲器芯片測試系統(tǒng)T5503HS2

存儲器芯片是一種應(yīng)用廣泛的數(shù)字集成電路，必須經(jīng)過許多必要的測試以保證其功能正確。對于其入廠檢測來說，測試向量不僅要自行開發(fā)，而且需要達(dá)到一定的覆蓋率才能檢測出存儲器的絕大部分功能性錯誤，這對測試方法、測試設(shè)備提出了較高的要求。

愛德萬測試的 T5503HS2 是設(shè)計用于提供針對新型存儲器和現(xiàn)有器件的測試解決方案。該測試系統(tǒng)在測試下一代 LP-DDR5和DDR5器件的同時也允許使用者兼容測試現(xiàn)今的 DDR4，LP-DDR4及高帶寬存儲器器件，實現(xiàn)了半導(dǎo)體業(yè)界最高的同測數(shù)和最優(yōu)利潤率。配置的 4.5GHz 高速時鐘選配模塊使新測試機(jī)擁 有了以超過 8 Gbps 的數(shù)據(jù)傳輸速率來應(yīng)對未來存儲器芯片測試的可擴(kuò)展性。

科技發(fā)展，產(chǎn)品升級，測試設(shè)備已經(jīng)準(zhǔn)備好了迎接未來的智能時代。