掃描大腦能預(yù)測即將發(fā)生的出錯(cuò)
亞利桑那大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)博士生Federico Cirett宣稱,解答數(shù)學(xué)題目將要犯錯(cuò)誤時(shí),他能以80%的正確率提前預(yù)測即將發(fā)生的錯(cuò)誤。利用腦電圖掃描儀器,Cirett能識(shí)別出志愿者思考的模式,能提前20秒左右的時(shí)間預(yù)測即將到來的出錯(cuò)。
他調(diào)查了參加學(xué)術(shù)能力評(píng)估考試(SAT)數(shù)學(xué)測試的志愿者,發(fā)現(xiàn)大腦活躍模式能指示它正瀕臨短路的臨界點(diǎn),例如對(duì)題目苦思而不解,在這種壓力下他犯錯(cuò)的可能性就會(huì)大大增加。他將在7月舉行的User Modeling, Adaptation and Personalization會(huì)議上公開其研究結(jié)果。
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