現(xiàn)代核譜測量儀器的發(fā)展逐漸趨于便攜化、小型化和智能化。雖然之前的便攜式核譜測量儀器集成度較高,但是成本和功耗也相對較高,已滿足不了現(xiàn)代野外核輻射探測的需求。筆者所設計的便攜式多道核譜儀采用STM32F103 作為控制器,利用控制器自身攜帶的ADC 采樣,對γ 射線進行數(shù)據(jù)采集,處理后通過液晶顯示模塊對譜線進行顯示; 同時也可將測量的數(shù)據(jù)存儲在存儲卡中,用于電腦更加精確地離線分析( 利用設計的核譜處理軟件) ,以彌補野外分析不足的缺陷。由于系統(tǒng)大部分的電路集成在控制器中,外圍電路很少,并且采用了市場上高性能、低成本、低功耗的32 位處理器,因此與其他嵌入式核譜測量儀器相比,該設計不僅集成度和工作時間顯著提高,而且成本和功耗也明顯降低,更適合野外探測。
1 硬件系統(tǒng)設計
整個核譜儀的硬件系統(tǒng)由探測器及放大電路模塊、高速數(shù)據(jù)采集和處理模塊、程控運放模塊、存儲和顯示模塊組成。系統(tǒng)的結構如圖1 所示。
圖1 硬件系統(tǒng)結構框圖
1.1 放大電路的設計
核輻射測量中,探測器輸出的信號比較小,需要加以放大再進行測量,而放大器分為前置放大和主放兩部分。前置放大電路的主要作用是提高系統(tǒng)的信噪比和減少外界干擾,因此比較簡單。前置放大器的體積小,緊靠探測器并與探測器構成一個整體,稱為探頭。
主放電路的主要作用是對信號進一步進行放大成形,以方便后續(xù)測量。經(jīng)前置放大的信號首先通過C1-R3 組成的微分電路成形,然后通過一個反相線性放大節(jié)進行線性放大,利用C3-R5-R6極零相消電路消除下沖,然后經(jīng)過有源積分濾波器將信號進一步放大成形,這時的信號就可用于后續(xù)工作中。主電路如圖2 所示。
圖2 主電路
1.2 高速數(shù)據(jù)采集
利用芯片自身攜帶的12 位ADC 對信號進行采樣,它有16 個輸入通道,采樣頻率為1MHz,有單信號及掃描等幾種模式,筆者采用單信號輸入模式。高速數(shù)據(jù)采集電路如圖3 所示。
圖3 高速數(shù)據(jù)采集電路
1.3 穩(wěn)譜電路設計
設計了由單片機自身攜帶的DAC 所組成的程控運放,目的是為了讓系統(tǒng)自動調節(jié)由各種外界條件引起的測量數(shù)據(jù)的偏差,增加系統(tǒng)的穩(wěn)定性和測量數(shù)據(jù)的準確性。程控運放電路如圖4 所示。
圖4 程控運放電路
2 系統(tǒng)軟件設計
核譜數(shù)據(jù)處理程序在keil 編譯環(huán)境下編寫,可以完成基本的核譜分析: 譜線顯示、尋峰及元素的定性分析等。軟件程序流程如圖5 所示,控制器在收集數(shù)據(jù)的同時對收集的數(shù)據(jù)進行處理,并通過顯示模塊顯示。
圖5 軟件程序流程
在系統(tǒng)工作前首先要對系統(tǒng)進行初始化,下面給出了A/D、D/A、SPI 的初始化程序。其中ADC 選用ADC1 的通道0,獨立連續(xù)轉化模式,用于傳輸數(shù)據(jù)到SD 卡的SPI 總線采用八位數(shù)據(jù)傳輸模式,代碼為:
譜線處理包括譜光滑、尋峰及計算峰面積等幾方面的內容。其中譜光滑采用了多項式最小二乘擬合法,尋峰采用了對稱零面積法,計算峰面積采用了線性本底法。最小二乘擬合的基本思想就是用一個n 次多項式與W = 2m + 1 個譜數(shù)據(jù)點逐次分段進行擬合,以達到光滑的目的。設在譜數(shù)據(jù)中取2m + 1
對稱零面積法的思想是對稱的面積為零的“窗”函數(shù)與實驗譜數(shù)據(jù)進行褶積變換,對線性基底的褶積變換將為零,只有存在峰的地方不為零。這樣就可以準確找出峰位所在。程序為:
3 實際測試
系統(tǒng)中的探測器用的是閃爍體探測器,雖然閃爍探測器的能量分辨率比不上半導體探測器,但具有探測效率較高及靈敏體積大等特點,并且對環(huán)境的適應性較強。用NaI( Tl) 晶體50mm ×50mm 做測試,采集的數(shù)據(jù)經(jīng)過核譜數(shù)據(jù)處理軟件處理后如圖6 所示。
圖6 數(shù)據(jù)處理效果
由圖6 可以看出,經(jīng)過處理后的譜線很光滑,峰位清晰,并且在圖形下方還可看見對應峰位的峰值,以便對其進行定性分析。
4 結束語
基于STM32F103 處理器的γ 能譜儀將便攜式核譜儀的功耗降到最低,并且最大限度地降低了成本。而VB 編程的離線核譜處理軟件,可以對所測數(shù)據(jù)進行分析處理,使儀器的整體性能得到了提高。但系統(tǒng)不能現(xiàn)場對所測數(shù)據(jù)進行分析處理是該系統(tǒng)存在的一個缺陷。
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