串行數(shù)據(jù)速率的穩(wěn)步提升，要求嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)和更先進(jìn)的一致性測(cè)試解決方案。這需要性能大幅度提高的測(cè)試和測(cè)量?jī)x器來支持發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和信道等方面的測(cè)試。為滿足這種需求，不僅要求廣泛的產(chǎn)品系列，還要求完善的、可擴(kuò)展的、能夠滿足當(dāng)前和未來需求的一致性自動(dòng)測(cè)試軟件平臺(tái)。泰克儀器及其最新推出的TekExpress™一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)可以單鍵自動(dòng)進(jìn)行高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，充分滿足了這一需求。這也是為進(jìn)行SATA測(cè)試專門設(shè)計(jì)的。

設(shè)計(jì)人員面臨的一個(gè)更大的挑戰(zhàn)是進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試。最新標(biāo)準(zhǔn)要求同時(shí)控制多臺(tái)儀器和被測(cè)設(shè)備；生產(chǎn)效率的市場(chǎng)壓力與要求的復(fù)雜測(cè)量數(shù)量迅速增長(zhǎng)：SATA Gen-2中要求進(jìn)行多達(dá)150項(xiàng)測(cè)試，這意味著自動(dòng)化和重復(fù)測(cè)量成為必然。隨著標(biāo)準(zhǔn)的不斷更新，設(shè)計(jì)人員必須能夠迅速簡(jiǎn)便地增加和修改測(cè)試程序和參數(shù)。此外，還需要多次的測(cè)試把多臺(tái)儀器的測(cè)試和結(jié)果結(jié)合起來。

TekExpress提供了一致性測(cè)試平臺(tái)需要的所有要素，包括圖形化的用戶界面、控制程序庫(kù)、一致性測(cè)試自動(dòng)腳本、報(bào)告生成、儀器自動(dòng)識(shí)別和測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)管理。泰克選擇National Instruments的TestStand測(cè)試管理環(huán)境執(zhí)行測(cè)試，因?yàn)樗哂胸S富的排序支持，可以接口許多不同的設(shè)計(jì)環(huán)境。TestStand還得到龐大的開發(fā)群體的支持，允許TekExpress平臺(tái)上的客戶擴(kuò)展自己的解決方案，滿足特定需要?？刂瞥绦驇?kù)支持ICP (儀器控制代理)、SCP (解決方案控制代理)和ACP (分析控制代理)。

TekExpress一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的最主要組成部分是用于特定標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)測(cè)試軟件，如SATA Gen-1和SATA Gen-2。新的TekExpress SATA自動(dòng)一致性測(cè)試軟件通過直觀的用戶界面從Windows XP 計(jì)算機(jī)上進(jìn)行控制，協(xié)調(diào)設(shè)置和控制序列，迅速高效地提供完整的認(rèn)證測(cè)試結(jié)果。在TekExpress SATA中，可以完成全部四個(gè)SATA-IO批準(zhǔn)的實(shí)現(xiàn)方法(MOI)，總測(cè)試時(shí)間不到3個(gè)小時(shí)，使一致性測(cè)試時(shí)間縮短了約70%。



不管是通過LAN、GPIB還是USB連接，該軟件都自動(dòng)(或按需)掃描和檢測(cè)支持的儀器。除泰克儀器外，其在初期還支持Keithley的RF Switch及Crescent Heart 軟件 (CHS)的錯(cuò)幀計(jì)數(shù)器。(TekVISA™是一種標(biāo)配軟件功能，允許使用儀器上運(yùn)行的應(yīng)用軟件控制儀器，或者從外部的PC工作站上通過網(wǎng)絡(luò)連接到儀器上運(yùn)行應(yīng)用軟件控制儀器.。應(yīng)用軟件包括LabView, Microsoft Excel, C, TekExpress, TestStand, 等等。



一旦設(shè)置了測(cè)試方案及正確連接DUT，用戶只需按“運(yùn)行（Run）”鈕，就可以執(zhí)行選擇的測(cè)試套件。它通過幫助菜單提供聯(lián)機(jī)幫助，用戶可以直接訪問參考信息，如設(shè)置圖及TekExpress SATA自帶的批準(zhǔn)的SATA MOI。工程師和測(cè)試技術(shù)人員可以了解測(cè)量原理，更好地理解測(cè)試結(jié)果。

在測(cè)試完成后，用戶可以獲得HTML版本的測(cè)試結(jié)果及通過/失敗狀態(tài)和計(jì)分卡。然后可以提交這張計(jì)分卡，由測(cè)試機(jī)構(gòu)在一致性測(cè)試會(huì)議上進(jìn)行正式一致性認(rèn)證。一旦計(jì)分卡上的分?jǐn)?shù)100%通過測(cè)試，那么底層DUT可以視為滿足規(guī)范。

對(duì)設(shè)備的驗(yàn)證，工程師通常會(huì)使用不同的工作條件進(jìn)行幾輪單一設(shè)備測(cè)試，如不同的溫度和電源電壓。有時(shí)這稱為四角測(cè)試(測(cè)試低溫-高溫和低壓-高壓)。對(duì)四角測(cè)試，NI支持廣泛的溫度艙和電源使用的驅(qū)動(dòng)程序，可以使用NI TestStand控制溫度艙，然后在TekExpress一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)上調(diào)用命令集和控制API，進(jìn)行一致性測(cè)試。為調(diào)節(jié)電源電壓，可以使用標(biāo)準(zhǔn)NI TestStand序列文件，修改TekExpress內(nèi)部的電源控制序列。這特別適合已經(jīng)使用TestStand進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的公司，允許測(cè)試工程師直接在測(cè)試序列中使用泰克一致性測(cè)試腳本。

通過推出TekExpress一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)及發(fā)布為SATA定制的TekExpress SATA自動(dòng)一致性測(cè)試軟件選項(xiàng)，泰克延續(xù)了其在高速串行測(cè)試中的領(lǐng)導(dǎo)地位和專業(yè)經(jīng)驗(yàn)。TekExpress一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)為未來的高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)一致性測(cè)試解決方案奠定了基礎(chǔ)。